泰瑞达推出Omnyx：重新定义AI时代的电路板测试

2026年4月2日，中国 北京讯 —— 全球领先的自动测试设备和先进机器人供应商泰瑞达近日推出突破性测试平台Omnyx，该平台专为印刷电路板组装（PCBA）和子组件打造，能够满足AI和数据中心类产品的独特测试需求。泰瑞达Omnyx将结构、参数、高速互连和功能测试集成于单一平台，树立行业全新标准，有效解决关键制造挑战，助力减少缺陷漏检，并提升最终组装产品质量。

下一代AI和数据中心产品对传统在线测试（ICT）提出了挑战。ICT的检测重心为组装过程中产生的结构和参数故障。然而，随着数据中心组装的复杂度与价值持续提升，制造商亟需一个全面的测试平台，在最终组装之前侦测并定位全新的信号完整性问题和功能性缺陷。

泰瑞达Omnyx整合了高速互连与任务模式/软件引导测试能力，可实现对全速和操作缺陷的有效覆盖，而这类缺陷以往通常只能在功能测试插入环节中检测到。通过该方案，制造商能在制造过程更早阶段发现高成本缺陷，从而提高元器件和子组件的质量。此举有助于推动生产线末端良率和产品质量双提升，满足当下高性能数据中心的严格要求。

泰瑞达电路板测试事业部总经理Mark Kahwati表示：“泰瑞达Omnyx是PCBA测试领域的一次重大飞跃，为客户提供了应对现代AI和数据中心硬件需求的关键工具。该平台不仅能提升产品质量，更能缩短产品上市周期，这在当下快节奏的市场环境中至关重要。行业正不断创新解决方案以支撑先进AI应用，而我们这款平台直击客户面临的复杂测试挑战，能为其提供有效解决方案，我们对此深感自豪。”

传统制造缺陷测试的方式已难以应对AI和数据中心基础设施测试的独特挑战，泰瑞达Omnyx平台则针对性地攻克了这一难题。其采用全维度测试方案，融合结构、参数、操作及高速互连测试能力，确保制造流程在兼顾经济效益的同时实现可扩展性。