本课程为精品课,您可以登录eeworld继续观看: SmallSignal_Modeling_–_Complete_Capacitance_Parameter_Set继续观看 课时1:About_This_Course 课时2:Intuitive_Overview_of_the_MOS_Transistor 课时3:CMOS_Processes 课时4:Semiconductors__Part_1 课时5:Semiconductors__Part_2 课时6:Semiconductors__Part_3 课时7:Conduction Part 1 课时8:Conduction Part 2 课时9:Contact_Potentials 课时10:pn_Junctions_–_Zero_and_Forward_Bias 课时11:pn_Junctions_–Under_Reverse_Bias_–_Part_1 课时12:pn_Junctions_–Under_Reverse_Bias_–_Part_2 课时13:The_TwoTerminal_MOS_Structure_–_Flatband_Voltage 课时14:The_TwoTerminal_MOS_Structure_–_Surface_Condition 课时15:The_TwoTerminal_MOS_Structure_–_General_Analysis 课时16:The_TwoTerminal_MOS_Structure_–_Inversion 课时17:The_TwoTerminal_MOS_Structure_–_Strong_Inversion 课时18:The_TwoTerminal_MOS_Structure_–_Weak_Inversion 课时19:The_TwoTerminal_MOS_Structure_–_SmallSignal_Capacitance 课时20:The_ThreeTerminal_MOS_Structure_–_Part_1 课时21:The_ThreeTerminal_MOS_Structure_–_Part_2 课时22:Introduction 课时23:Complete_AllRegion_Model 课时24:Simplified_AllRegion_Models 课时25:Strong_Inversion_Models_–_1 课时26:Strong_Inversion_Models_–_2 课时27:Strong_Inversion_Models 课时28:Weak_Inversion_Models 课时29:Source_Reference_vs._Body_Reference 课时30:Effective_Mobility 课时31:Additional_Topics 课时32:SmallDimension_Effects__Velocity_Saturation 课时33:SmallDimension_Effects_–_Channel_Length_Modulation 课时34:SmallDimension_Effects__Charge_Sharing 课时35:SmallDimension_Effects_–_DrainInduced_Barrier_Lowering 课时36:SmallDimension_Effects_–_Combining_Several_Effects_Into_One_Model 课时37:SmallDimension_Effects_–_Hot_Carrier_Effects 课时38:SmallDimension_Effects__Velocity_Overshoot_and_Ballistic_Operation 课时39:SmallDimension_Effects__Polysilicon_Depletion 课时40:SmallDimension_Effects__QuantumMechanical_Effects;_Gate_Current 课时41:SmallDimension_Effects_–_Junction_Leakage 课时42:SmallDimension_Effects__Scaling_and_New_Technologies 课时43:Modeling_for_Circuit_Simulation_–_Approaches_and_Properties_of_Good_Models 课时44:Modeling_for_Circuit_Simulation_–_Model_Formulation_Considerations 课时45:Modeling_for_Circuit_Simulation_–_Parameter_Extraction_1 课时46:Modeling_for_Circuit_Simulation_–_Parameter_Extraction_2 课时47:Modeling_for_Circuit_Simulation_–_Representative_Compact_Models 课时48:Modeling_for_Circuit_Simulation_–_Benchmark_Tests 课时49:LargeSignal_Dynamic_Operation_–_QuasiStatic_Operation 课时50:LargeSignal_Dynamic_Operation_–_Terminal_Currents_in_QS_Operation 课时51:LargeSignal_Dynamic_Operation_–_Charging_Currents_in_QS_Operation 课时52:LargeSignal_Dynamic_Operation_–_Evaluation_of_Charges 课时53:LargeSignal_Dynamic_Operation_–_Transit_Time 课时54:LargeSignal_Dynamic_Operation_–_Transient_Response_Using_QS_Modeling 课时55:LargeSignal_Dynamic_Operation_–_NonQuasiStatic_Operation 课时56:LargeSignal_Dynamic_Operation_–_Extrinsic_Parasitics 课时57:SmallSignal_Modeling_–_Conductance_Parameter_Definitions_and_Equivalent_C 课时58:SmallSignal_Modeling_–_Conductance_Parameters_Due_to_Gate_and_Body_Leakag 课时59:SmallSignal_Modeling_–Transconductance 课时60:SmallSignal_Modeling_–_SourceDrain_and_Output_Conductance 课时61:SmallSignal_Modeling_–_Capacitance_Definitions_and_Equivalent_Circuits 课时62:SmallSignal_Modeling_–_Capacitance_Evaluation_and_Properties 课时63:SmallSignal_Modeling_–_Complete_Capacitance_Parameter_Set 课时64:SmallSignal_Modeling_–_Complete_QuasiStatic_Model 课时65:SmallSignal_Modeling_–_yParameter_Model 课时66:SmallSignal_Modeling_–_NonQuasiStatic_Model 课时67:SmallSignal_Modeling_–_Model_Comparison 课时68:SmallSignal_Modeling_–_RF_Models 课时69:Noise__Introduction 课时70:Noise__Thermal_Noise 课时71:Noise__HighFrequency_Considerations 课时72:Noise__Flicker_Noise 课时73:Ion_Implantation_–_Threshold_Adjust_Implant 课时74:Halo_Implants 课时75:Well_Proximity_Effect 课时76:Stress_Effects 课时77:Statistical_Variability 课时78:Epilogue 课程介绍共计78课时,15小时8分11秒 MOS晶体管 (哥伦比亚大学,英文字幕) 课程旨在讲述MOS晶体管如何工作,以及如何建模。本课程所提供的知识不仅对器件建模者,而且对高性能电路的设计者都是必不可少的。 上传者:桂花蒸 猜你喜欢 随机信号分析 嵌入式linux Framebuffer驱动开发 如何在步进电机中运用集成式的电流感应器 2019_Digikey KOL系列:浅谈电子产品的开发创意及利用网络资源为开发助力 高压隔离技术的工作原理 世界首款柔性智能屏手机问世 包络追踪电源方案:使得音频功放更加高效省电! 单次雪崩耐受性 热门下载 浅谈检测/校准用软件的可靠性验证 基于C8051F激光器驱动电源仿真与设计 8098单片机与免提语音芯片MC34118的接口 AVR单片机+CPLD体系在测频电路中的应用 Altium Designer原理图库 接口器件.SchLib 模块原理图 MK_可编程设计范例大全.pdf 各种排序算法的比较 Sprint-Layout V5.0免安装中文版 JIS K0128-2000 Testing methods for pesticides in industrial water and waste water.pdf 热门帖子 南芯,沁恒,兆易,雅特力...众多好板免费测评,就在这里! 对于爱板人士来说,看到一块好板免费测评,不失为一件快乐的事情~而现在,我要告诉你,论坛最近有多款好板测评活动上线,是不是会让你觉得兴奋呢??都有哪些好板活动呢?咱们先来看一看:南芯SC8905评估板免费测评,支持充放电双向操作SC8905EVMSC8905EVM是用于SC8905高效率,同步,双向降压充电/升压放电,集成功率管和I2C接口芯片的演示和评估板。用户可以通过该EVM板,利用I2C接口方便地调节各个参数,评估SC okhxyyo CC4032------三串行加法器.rar 本文很详细的介绍了CC4032------三串行加法器的相关的在知识CC4032------三串行加法器.rar rain 基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析 现代电子技术的高速发展对传统的电路测试技术提出了新的挑战。器件封装的小型化、表面贴装(SMT)技术的应用,以及由于板器件密度的加大而出现的多层印制板技术使得电路节点的物理可访问性逐步减低,原来借助于针床的在线测试(ICT)的局限性日益增大。电路和系统可测试性的急剧降低导致测试费用占电路和系统总费用的比重越来越高。人们已意识到,单靠改善测试方法来实现电路的测试及故障诊断是远远不够的。要从根本上解决问题,提高电路的可观测性和可控制性,在电路系统设计之初就要充分考虑测试及故障诊断的要求,即进行可测性设 songrisi 测量CC2640低功耗的技巧 最近的一个项目是用cc2640做一个蓝牙门锁。功能实现后折腾低功耗花了一两天。其实功耗主要是两方面1、是蓝牙广播的时间,这个周期越长功耗会更低2、一些IO口存在漏电测试功耗可以先把蓝牙广播完全关掉,从而来测量整个外设的功耗情况;一些普通的输出口一般不会影响功耗,只要把高低置好就不会有漏电,主要是要注意一些输入口,特别是AD口,其内部因为电路不一样会造成漏电,这种一般就是在采集的时候置为输入,平常置为输出。在测量功耗的时候注 Aguilera 物联网网罗天地 世界将发生怎样的变化 物联网”、“嵌入式技术”、“传感技术”、“智能家居”、“泛在网络”……这些看上去熟悉又陌生的专有名词将使我们的生活发生怎样的变化?当语言不再是人类特有,所有物与物、物与人之间都可以通过计算机、互联网进行立体对话,世界又将发生怎样的变化?早上醒来,躺在床上用手机发条指令,面包机、煮蛋器可自动为你做好早点;进入办公区,刷刷门卡,所有需要的照明设备便可自动亮起;晚上回家,空调可提前开启为你驱寒降暑;外出逛街,GPS等手持设备可为你搜罗附近最新的促销信息,并将商场的营业时间、目的路线、特色信息统 xyh_521 《晶体管电路设计》日本 池原典利著 中文版 《晶体管电路设计》池原典利(日本)著,中文版由国防工业出版社《晶体管电路设计》翻译组翻译,1970年7月由国防工业出版社出版第1版。老一辈翻译的技术书籍都很严谨,适合有一定基础的工程师温习。此书共分十二章,逐一介绍了晶体管音频放大、高频放大、直流放大、振荡、变频、检波、调制、稳压电源、电视技术、脉冲信号技术,以及特殊半导体器件等基本电路设计计算方法。全书侧重于电路设计举例,内容浅显易懂,不同于国内的模电教科书,虽年代久远,但基础理论仍然历久弥新。《晶体管电路设计》日本池原典利著中文版 turbocharger 网友正在看 仿真常用语法讲解1 TransferJet适配器 系统建模与分析 11.6 效能分析 了解功率密度–减少开关损耗 指令系统的发展与改进 基于OV5640的以太网视频传输_程序设计(第二讲) PowerDissipation 主频和时钟配置实验-8路PLL和8路PFD时钟设置