本课程为精品课,您可以登录eeworld继续观看: Sputtering:introduction and plasma formation继续观看 课时1:Teaser 课时2:Successful MEMS products:accelerometer 课时3:Successful MEMS products:microphone 课时4:Successful MEMS products:BAW 课时5:Case study:thermomechanical microactuator 课时6:Cleanroom basics:introducing the issue of contamination 课时7:Cleanroom basics:cleanroom strategy 课时8:Basic principles of CVD and CVD reactors 课时9:CVD techniques at different operating pressure plasmaenhanced CVD and me 课时10:Atomic layer CVD ALD and thermal oxidation of silicon 课时11:Theoretical concepts of gas flow in CVD reactors 课时12:CVD thin film growth model 课时13:Specific CVD processes for siliconbased materials and diamond 课时14:Thermal oxidation processes of silicon and ALD deposition of specific oxid 课时15:Thermal evaporation:introduction and vapor creation 课时16:Thermal evaporation:film formation and examples 课时17:Thermal evaporation in CMi 课时18:Sputtering:introduction and plasma formation 课时19:Sputtering:spatial zones and Paschen law 课时20:Sputtering:DC RF magnetron 课时21:Sputtering:ion target interactions 课时22:Sputtering:film growth and control parameters 课时23:Sputtering:examples 课时24:Sputtering in CMi 课时25:SUPPLEMENTARY Other PVD methods 课时26:Film growth:atoms arrival and adhesion 课时27:Film growth:stress in thin films 课时28:SUPPLEMENTARY Film growth:growth modes and crystal structure 课时29:Introduction to lithography 课时30:Resist properties and exposure methods 课时31:SUPPLEMENTARY Photoresist sensitivity and modulation transfer function 课时32:UV lithography:direct writing and mask writing 课时33:UV lithography in CMi:mask fabrication 课时34:UV lithography:mask based lithography 课时35:UV lithography in CMi:mask based lithography 课时36:Electron beam lithography:tool overview 课时37:Electron beam lithography:electron optics and beam deflection 课时38:SUPPLEMENTARY Electron beam lithography:tool overview II 课时39:SUPPLEMENTARY Electron beam lithography:design preparation and fracture 课时40:Electron beam lithography:electronsample interactions 课时41:Electron beam lithography:resists 课时42:SUPPLEMENTARY Electron beam lithography:proximity effect 课时43:Alternative patterning methods:scanning probe lithography 课时44:SUPPLEMENTARY Alternative patterning methods:replication methods 课时45:Dry etching in a gas plasma:etching anisotropy 课时46:Deep dry etching of silicon dry etching without a plasma 课时47:Theoretical concepts of plasma generation 课时48:Types of dry etching equipment and plasma sources 课时49:Ion beam etching 课时50:Examples of etching processes for Sibased materials 课时51:Examples of etching processes for organic films and metals 课时52:Anisotropic and isotropic wet etching of Si and applications 课时53:HF bath for SiO2 and glass wet etching 课时54:Isotropic wet etching of silicon in the HNA bath 课时55:Anisotropic wet etching of silicon in alkaline baths 课时56:Etch stop techniques for thin membrane microfabrication and bulk micromach 课时57:Supercritical drying for realization of suspended structures test microst 课时58:Optical microscopy:inspection and dimension measurement 课时59:Optical thin film thickness measurement 课时60:Optical surface profile measurement 课时61:Mechanical surface profile measurement 课时62:Scanning electron microscopy 课时63:Focused ion beam:local cross sectional inspection and measurement 课时64:Electrical characterization 课程介绍共计64课时,11小时13分5秒 微纳加工(半导体制造工艺)瑞士联邦理工学院 本课程将在超净环境中向大家展示最有效的集成电路制造工艺,以教授半导体制造的基本原理和流程。 上传者:桂花蒸 猜你喜欢 TI-RSLK 模块 4 - 使用 MSP432 进行软件设计 Fluke高端红外热像仪应用案例:开启无限红外应用 CES 2015焦点: 连线汽车门禁系统 Sitara™产品家族介绍_2016 TI 嵌入式产品研讨会实录 超大规模集成电路基础 Atmel SAM D2x电容触摸解决方案 电路保护性设计 电工电子学(中国石油大学) 热门下载 浅谈检测/校准用软件的可靠性验证 基于C8051F激光器驱动电源仿真与设计 8098单片机与免提语音芯片MC34118的接口 AVR单片机+CPLD体系在测频电路中的应用 Altium Designer原理图库 接口器件.SchLib 模块原理图 MK_可编程设计范例大全.pdf 各种排序算法的比较 Sprint-Layout V5.0免安装中文版 JIS K0128-2000 Testing methods for pesticides in industrial water and waste water.pdf 热门帖子 TLP3547评估板评测报告(完结) 自从收到模块之后一直再思考从那几个方面才能比较全面的评测,看到群谈上的朋友发的评测自愧不如现就手边有的东西,东拼西凑搭一套测试环境电位器用于调节频率,得益于TLP3547的超小触发电流可以直接用单片机引脚驱动,并且收到时背面已经焊接了一个限流电阻,连电阻都省了。输出端一端接5V电源,一端依次连接LED、限流电阻、GND。逻辑分析仪接信号输出脚和继电器输出。68Hz(通道1时信号输入、通道0为继电器输出)80Hz超过86Hz波形几开始乱了总结一下:昨晚的实验法还是有些问题1、 zhangyadong300 每日几问 2、由连续赋值语句(assign)赋值的变量能否是reg类型的?在always模块中被赋值的变量能否是wire类型的?如果不能是wire类型,那么必须是什么类型的?它们表示的一定是实际的寄存器吗?逻辑比较运算符小于等于“=”和非阻塞赋值大于等于“=”的表示完全一样的,为何Verilog在语句解释和编译时不会搞错?每日几问还是先说一下我自己的理解,如果有什么出入的地方欢迎大家一起讨论!assign赋值的变量必须是wire类型,好像如果该成reg型编译时会提示错误。Verilog语 奔跑的蜗牛 惠斯通电桥结构中的电阻分析 如图,这是一个典型的惠斯通电桥。单桥应变片形变经过差分输入放大器后输出。令我不解的是,电阻R4、R5与电桥串联,起到的是什么作用?特别是那个0欧的R4,我的猜测是R4、R5是高温度系数的电阻,和应变片一同放入测试环境,温度的变化会使电桥的输出变大。但是高温度系数的R4、R5会分得更大的电压,使电桥输出降低,从而动态的调节电桥的灵敏度。欢迎各位老师指正,此外,R6、R7这两个0欧电阻放在差分输入端,实在不太明白这两个电阻的作用。此外,应变片的温度变化从-50-200℃,应 傅里叶的猫 《Linux内核深度解析》 U-Boot程序之程序启动流程简介及SPL阶段芯片配置 ARM芯片启动简单流程如下,所以U-Boot也分为SPL和U-Boot程序。SPL:SecondaryProgramLoader,第二阶段程序加载器,主要负责初始化内存和存储设备驱动,然后把正常的U-Boot镜像从存储设备读到内存中执行。在实际项目中经常需要在SPL阶段配置芯片引脚,尤其是GPIO的初始化配置。因为在程序还未加载内核的设备树之前,需要GPIO的输出引脚保持指定状态(高/低电平输出)以免造成错误状态输出,结合之前的项目经验进行简单分享以TI公司的A beyond_笑谈 为何导入PCB的封装没有飞线? 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